検査用ICソケット-Burn-in │ Burn-in Sockets │ 製品 │ 山一電機

Probe Card

シリーズ一覧

1件~3件(全3件)

IC234シリーズ

IC234シリーズ

QFP用オープントップソケット
リードの肩部に接触させるコンタクトデザイン
ICリードはんだ面へのダメージ0、異物付着なし
ICリードの長短兼用使用可能

IC357シリーズ

IC357シリーズ

QFP用オープントップソケット
2点接触による高接触信頼性

IC51シリーズ

IC51シリーズ

●QFP用クラムシェルソケット
長期に渡る販売実績にて培った、高信頼性とすぐれた耐熱、耐久性を実現
●多極・極小ピッチ等の特殊パッケージ用としてカスタムメイドも可能 

  • 1
Burn-in Sockets
Probe Card